Trumpabangis infraraudonasis spindulys (SWIR) – tai specialiai sukurtas optinis lęšis, skirtas fiksuoti trumpabangę infraraudonąją šviesą, kurios žmogaus akis tiesiogiai nemato. Ši juosta paprastai vadinama šviesa, kurios bangos ilgis yra nuo 0,9 iki 1,7 mikrono. Trumpabangio infraraudonojo lęšio veikimo principas priklauso nuo medžiagos pralaidumo savybių tam tikram šviesos bangos ilgiui, o pasitelkus specializuotas optines medžiagas ir dangų technologiją, lęšis gali efektyviai praleisti trumpabangę infraraudonąją šviesą, slopindamas matomą šviesą ir kitus nepageidaujamus bangos ilgius.
Pagrindinės jo savybės apima:
1. Didelis pralaidumas ir spektrinis selektyvumas:SWIR lęšiuose naudojamos specializuotos optinės medžiagos ir dangų technologija, siekiant didelio pralaidumo trumpųjų bangų infraraudonųjų spindulių diapazone (0,9–1,7 mikrono), ir jie pasižymi spektriniu selektyvumu, palengvindami specifinių infraraudonųjų spindulių bangos ilgių identifikavimą ir laidumą bei kitų šviesos bangos ilgių slopinimą.
2. Atsparumas cheminei korozijai ir terminis stabilumas:Lęšio medžiaga ir danga pasižymi išskirtiniu cheminiu ir terminiu stabilumu ir gali išlaikyti optinį našumą esant dideliems temperatūros svyravimams ir įvairioms aplinkos sąlygoms.
3. Didelė raiška ir mažas iškraipymas:SWIR lęšiai pasižymi didele skiriamąja geba, mažu iškraipymu ir greito reagavimo optinėmis savybėmis, atitinkančiomis didelės raiškos vaizdavimo reikalavimus.
Trumpabangiai infraraudonieji lęšiai plačiai naudojami pramoninio tikrinimo srityje. Pavyzdžiui, puslaidininkių gamybos procese SWIR lęšiai gali aptikti silicio plokštelių defektus, kuriuos sunku aptikti matomoje šviesoje. Trumpabangių infraraudonųjų spindulių vaizdavimo technologija gali padidinti plokštelių tikrinimo tikslumą ir efektyvumą, taip sumažinant gamybos sąnaudas ir pagerinant produkto kokybę.
Trumpabangiai infraraudonųjų spindulių lęšiai atlieka gyvybiškai svarbų vaidmenį puslaidininkinių plokštelių tikrinime. Kadangi trumpabangi infraraudonųjų spindulių šviesa gali prasiskverbti pro silicį, ši savybė leidžia jiems aptikti silicio plokštelių defektus. Pavyzdžiui, plokštelėje gali atsirasti įtrūkimų dėl gamybos proceso metu susidariusių įtempių, ir šie įtrūkimai, jei nebus aptikti, tiesiogiai paveiks galutinio IC lusto išeigą ir gamybos sąnaudas. Naudojant trumpabangius infraraudonųjų spindulių lęšius, tokius defektus galima efektyviai aptikti, taip didinant gamybos efektyvumą ir gerinant produkto kokybę.
Praktiškai trumpųjų bangų infraraudonųjų spindulių lęšiai gali pateikti didelio kontrasto vaizdus, todėl net ir mažiausi defektai tampa aiškiai matomi. Šios aptikimo technologijos taikymas ne tik padidina aptikimo tikslumą, bet ir sumažina rankinio aptikimo sąnaudas bei laiką. Remiantis rinkos tyrimų ataskaita, trumpųjų bangų infraraudonųjų spindulių lęšių paklausa puslaidininkių aptikimo rinkoje kasmet auga ir tikimasi, kad ateinančiais metais ji išliks stabili.
Įrašo laikas: 2024 m. lapkričio 18 d.