Trumpųjų bangų infraraudonieji spinduliai (SWIR) yra specialiai sukurtas optinis lęšis, skirtas užfiksuoti trumpųjų bangų infraraudonųjų spindulių šviesą, kurios žmogaus akis tiesiogiai nesuvokia. Ši juosta paprastai vadinama šviesa, kurios bangos ilgis yra nuo 0,9 iki 1,7 mikrono. Trumpųjų bangų infraraudonųjų spindulių lęšio veikimo principas priklauso nuo medžiagos perdavimo savybių tam tikram šviesos bangos ilgiui, o naudojant specialias optines medžiagas ir dangos technologiją, objektyvas gali puikiai praleisti trumpųjų bangų infraraudonųjų spindulių šviesą, tuo pačiu slopindamas matomą šviesą. šviesos ir kitų nepageidaujamų bangų ilgių.
Jo pagrindinės savybės apima:
1. Didelis pralaidumas ir spektrinis selektyvumas:SWIR lęšiuose naudojamos specializuotos optinės medžiagos ir dangos technologija, kad būtų pasiektas didelis trumpųjų bangų infraraudonųjų spindulių diapazono pralaidumas (0,9–1,7 mikrono) ir spektrinis selektyvumas, palengvinantis tam tikrų infraraudonųjų spindulių bangų ilgių identifikavimą ir laidumą bei kitų šviesos bangų ilgių slopinimą. .
2. Atsparumas cheminei korozijai ir terminis stabilumas:Lęšio medžiaga ir danga pasižymi išskirtiniu cheminiu ir terminiu stabilumu ir gali išlaikyti optinį efektyvumą esant ekstremaliems temperatūros svyravimams ir įvairioms aplinkos sąlygoms.
3. Didelė skiriamoji geba ir mažas iškraipymas:SWIR objektyvai pasižymi didele raiška, mažu iškraipymu ir greito atsako optinėmis savybėmis, atitinkančiomis didelės raiškos vaizdo reikalavimus.
Trumpųjų bangų infraraudonųjų spindulių lęšiai plačiai naudojami pramoninės patikros srityje. Pavyzdžiui, puslaidininkių gamybos procese SWIR lęšiai gali aptikti silicio plokštelių trūkumus, kuriuos sunku aptikti matomoje šviesoje. Trumpųjų bangų infraraudonųjų spindulių vaizdo gavimo technologija gali padidinti plokštelių tikrinimo tikslumą ir efektyvumą, taip sumažindama gamybos sąnaudas ir pagerindama gaminio kokybę.
Trumpųjų bangų infraraudonųjų spindulių lęšiai atlieka gyvybiškai svarbų vaidmenį tikrinant puslaidininkines plokšteles. Kadangi trumpųjų bangų infraraudonųjų spindulių šviesa gali prasiskverbti į silicį, šis atributas suteikia galimybę trumpųjų bangų infraraudonųjų spindulių lęšiams aptikti silicio plokštelių defektus. Pavyzdžiui, plokštelėje gali būti įtrūkimų dėl liekamojo įtempimo gamybos proceso metu, o šie įtrūkimai, jei jie nebus aptikti, tiesiogiai paveiks galutinio užbaigto IC lusto išeigą ir gamybos sąnaudas. Naudojant trumpųjų bangų infraraudonųjų spindulių lęšius, tokius defektus galima efektyviai pastebėti, taip skatinant gamybos efektyvumą ir gaminio kokybę.
Praktikoje trumpųjų bangų infraraudonųjų spindulių lęšiai gali pateikti didelio kontrasto vaizdus, todėl net menkiausi defektai yra aiškiai matomi. Šios aptikimo technologijos taikymas ne tik padidina aptikimo tikslumą, bet ir sumažina rankinio aptikimo sąnaudas bei laiką. Remiantis rinkos tyrimų ataskaita, trumpųjų bangų infraraudonųjų spindulių lęšių paklausa puslaidininkių aptikimo rinkoje kasmet auga ir per ateinančius kelerius metus tikimasi išlaikyti stabilią augimo trajektoriją.
Paskelbimo laikas: 2024-11-18